飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术， 可并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率（可以达到100%），只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，可提供样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息以及三维分布信息。该技术可应用于半导体、聚合物、涂料、涂层，玻璃、纸张、金属、陶瓷、生物材料、药品有机组织等领域，测定痕量金属、化合物结构、精确原子量、同位素标定和失效分析等信息。

　　为了使所内研究人员全方位了解飞行时间二次离子质谱的技术特点及应用领域，同时调研研究人员的实际需求，现召开“飞行时间二次离子质谱仪器介绍”宣讲会，会议信息如下：

　　飞行时间二次离子质谱仪器介绍

　　宣讲人：高聚宁  北京艾飞拓科技有限公司（IONTOF中国代表处）

　　会议时间：2020年7月21日，13:15-14:30

　　会议软件：腾讯视频软件，请大家提前下载腾讯会议app。

　　会议ID：581 340 477

　　联系人：赵旭

　　联系电话：84379707