飞行时间二次离子质谱（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS）是一种非常灵敏的材料表面分析表征技术。该技术可并行探测所有元素和化合物，只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括催化剂、电池材料、半导体、聚合物、涂料、涂层、玻璃、纸张、金属、陶瓷、生物材料、药品和有机组织领域。普遍应用于材料表面成分及分布，痕量金属探测，化合物结构测定，精确原子量测定，同位素标定，失效分析，多层膜层结构表征，表面或深度分布，吸附或扩散分析等。相对于 XPS和 AES 等表面分析方法，TOF-SIMS 可以分析包括氢在内的所有元素，及包括有机大分子在内的化合物，具有极高的横向分辨率(< 50 nm)和纵向分辨率(< 1 nm)和非常灵敏的探测极限(ppm~ppb 量级)。

DNL2003组于2022年中旬购置一台TOF-SIMS质谱仪（IONTOF M6），现邀请北京艾飞拓公司技术专家杜文峰介绍TOF-SIMS原理及应用，解答科研人员在研究中遇到的问题。

时间：2022年11月04日（周五）09:00-11:00

地点：催化楼B303会议室

腾讯会议ID：315-874-300

联系人及电话：张红燕 13795176846